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TeraLyzer - THz-TDS 물질 파라미터 추출 소프트웨어

  • 제품유형 THz-TDS Systems
  • 제품규격 분석 방식: Transmission THz-TDS
    분석 시료 두께: Sub-100 μm부터 수 mm
    추출 파라미터: 굴절률 n, 흡수계수 α, 소광계수 κ, 유전율 ε′·ε″
    지원 분석: 단층 시료, 다층 시료 및 크라이오스탯 내부 시료
  • 브랜드 Menlo Systems

Product Details

Terahertz Solutions - THz Data Analysis Software - Material Parameter Extraction

 

Menlo Systems Logo

 

Menlo Systems TeraLyzer 

 

Menlo Systems TeraLyzer

 

Sub-100 μm 초박막 및 다층 시료의 THz 광학 파라미터와 두께를 분석하는 소프트웨어 

 

Menlo Systems TeraLyzer는 투과 방식 THz 시간영역 분광법(THz-TDS) 데이터를 이용해 시료의 광학 특성과 두께를 분석하는 물질 파라미터 추출 소프트웨어입니다. 굴절률 n, 흡수계수 α, 소광계수 κ, 실수 유전율 ε′, 허수 유전율 ε″를 산출하며, 각 결과의 오차 범위와 추정 시료 두께를 함께 제공합니다.

분석 과정은 THz-TDS 데이터 불러오기 및 전처리, 시료 두께 추출, 광학 파라미터 계산 순서로 진행됩니다. Fabry–Perot 반사를 고려한 Quasi Space 및 Total Variation 방법을 지원해 별도의 차분 측정 구성 없이도 Sub-100 μm 초박막 시료를 분석할 수 있습니다. 또한 다층 구조, 크라이오스탯 내부처럼 직접 접근하기 어려운 시료, 흡수율이 높은 시료의 평가에도 활용할 수 있습니다.

단일 워크스테이션용 라이선스, 최대 10대의 워크스테이션에서 사용하는 그룹 라이선스, 28일간 사용할 수 있는 평가판 옵션을 제공합니다.

 

 

제품 특징 

 

■ 광대역 THz-TDS 분석 

    - 투과 방식 THz 시간영역 분광 데이터의 광학 특성을 폭넓게 평가할 수 있습니다.

■ 시료 두께 추출 

    - Fabry–Perot 반사를 고려한 분석으로 측정 시료의 두께를 계산합니다.

■ 광학 파라미터 추출 

    - 굴절률 n, 흡수계수 α, 소광계수 κ, 유전율 ε′ 및 ε″를 산출합니다.

■ Sub-100 μm 초박막 분석 

    - 별도의 차분 측정 구성 없이 수십 μm급 초박막부터 수 mm 두께의 시료까지 분석할 수 있습니다.

■ 다층 시료 분석 

    - 구조와 두께를 알 수 없는 다층 시스템의 개별 층을 분석할 수 있습니다.

■ 통계적 오차 전파 

    - 산출된 광학 파라미터와 함께 분석 결과의 오차 범위를 제공합니다.

■ 데이터 불러오기 및 전처리 

    - 측정한 THz-TDS 데이터를 분석에 적합한 형식으로 불러오고 전처리할 수 있습니다.

■ 고흡수 시료 보정 

    - 동적 범위를 고려한 보정 기능으로 흡수율이 높은 시료의 측정을 지원합니다.

■ 비접근 시료 분석 

    - 크라이오스탯 내부와 같이 직접 접근하기 어려운 시료도 측정 데이터 기반으로 분석할 수 있습니다.

■ 다양한 라이선스 옵션 

    - 단일 라이선스, 최대 10대의 워크스테이션을 지원하는 그룹 라이선스, 28일 평가판을 선택할 수 있습니다.

 

 

주요 응용 분야 

 

■ Time-resolved THz Spectroscopy in Transmission Geometry

■ Investigation of Sub-100 µm Samples, up to Several mm Thickness

■ Characterization of unknown Layers in a Multilayer System

■ Inaccessible Samples, eg. in a Cryostat

 

 

제품 사양 

 

Model

TeraLyzer

Measurable Sample Thickness

<100 µm, up to several mm, multilayer empowerment

Multi-step Procedure

data import (transmission measurement) 

data preprocessing (windowing, offset and phase correction) 

thickness extraction 

extraction of n,α, κ, ε’ and  ε’’’ 

statistical error propagation

Thickness Extraction Algorithms

considering Fabry-Perot reflections (Quasi Space or Total Variation method)

Setup Requirements

Setup Configuration

flexible import of Menlo Systems TDS data or custom data import

System Requirements

Processor

Intel Pentium 4 or AMD Athlon 64 processor

Systems Software

Microsoft Windows XP

RAM

1 GB

Display

1024x768 display with graphic card

Data import

THz time-domain measurement data (ASCII)

Data export

.csv and .mat

Internet Connection

required for license validation

 

 

옵션 

 

■ SINGLE LICENCE 

    Single Version 

■ GROUP LICENCE 

    Up to 10 Workstations 

■ TRIAL VERSION 

    Valid for 28 Days

 

 

 

 

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